三綜合試驗箱常見標準

發(fā)布時間： 2024-10-10　　點擊次數(shù)： 473次

三綜合試驗箱-1 - 副本.jpg

三綜合試驗箱技術(shù)規(guī)格：

三綜合.png

1. GB/T 2423.25-2008：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗》；

2. GB/T 2423.26-2008：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗》；

3. GB/T 2423.27-2005：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗》；

4. GB/T 2423.35-2005：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗》，其更新標準為GB/T 2423.35-2019：《環(huán)境試驗第2部分：試驗和導(dǎo)則氣候（溫度、濕度）和動力學（振動、沖擊）綜合試驗》；

5. GB/T 2423.36-2005：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/BFe：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗》；

6. GB/T 2424.15-2008：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第3部分：溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則》；

7. GB/T 2424.22-1986：《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度（低溫、高溫）和振動（正弦）綜合試驗導(dǎo)則》；

8. GB/T 5170.19-2018：《環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第19部分：溫度、振動（正弦）綜合試驗設(shè)備》；

9. GB/T 12085.5-2010：《光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗》。

10.GB/T 28046.3-2011 道路車輛電氣及電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗

上一篇：高低溫沖擊試驗箱制冷系統(tǒng)常遇到的幾大故障

下一篇：制冷系統(tǒng)的設(shè)計、故障分析及常用知識

一区二区三区无遮无挡在线看|国产欧美精品区区一区二区三|日韩国产精品免费一区二区三区|国产日韩欧美有码在线

三綜合試驗箱常見標準