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快速溫變濕熱試驗(yàn)箱主要用于考察各種工業(yè)制品熱機(jī)械性能引起的失效，當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時(shí)，溫度循環(huán)試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實(shí)現(xiàn)以Z快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測(cè)樣件應(yīng)用環(huán)境條件，一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評(píng)估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問(wèn)題的有效方法。

高低溫快速溫變?cè)囼?yàn)箱主要用于考察各種工業(yè)制品熱機(jī)械性能引起的失效，當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時(shí)，溫度循環(huán)試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實(shí)現(xiàn)以Z快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測(cè)樣件應(yīng)用環(huán)境條件，一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評(píng)估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問(wèn)題的有效方法。

快速溫變?cè)囼?yàn)箱主要用于考察各種工業(yè)制品熱機(jī)械性能引起的失效，當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時(shí)，溫度循環(huán)試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實(shí)現(xiàn)以Z快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測(cè)樣件應(yīng)用環(huán)境條件，一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評(píng)估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問(wèn)題的有效方法。

高低溫快速應(yīng)力試驗(yàn)箱溫變率5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/mi可執(zhí)行快速溫變（應(yīng)力篩選）、高溫高濕、溫度循環(huán)..等多種試驗(yàn)在線(xiàn)控制系統(tǒng)具有防呆、電磁干擾功能有效達(dá)到低噪音、低能耗、節(jié)能減碳的效果采用美國(guó)新型PWM制冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行存儲(chǔ)分析功能，配帶SD卡、R485、232、Ethernet連接；機(jī)臺(tái)多處報(bào)警檢測(cè)，配置無(wú)線(xiàn)遠(yuǎn)程報(bào)警功能

高低溫快速變溫試驗(yàn)機(jī)是適用于電子、電工產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐寒試驗(yàn)，溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，特別適用于進(jìn)行電子、電工產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）試驗(yàn)。此系列試驗(yàn)箱適用于對(duì)產(chǎn)品（整機(jī)）、零部件、材料進(jìn)行高溫、低溫、高低溫循環(huán)試驗(yàn)以及恒定濕熱和交變濕熱試驗(yàn)。